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電子拉力試驗(yàn)機(jī)數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器芯片參數(shù)及外部管腳性能描述
電子拉力試驗(yàn)機(jī)數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器芯片參數(shù)及外部管腳性能描述：
一.電子拉力試驗(yàn)機(jī)數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器芯片技術(shù)參數(shù)描述：
主要技術(shù)參數(shù)為高精度24位數(shù)據(jù)輸出，0.0015%非線性誤差；模/數(shù)轉(zhuǎn)換結(jié)構(gòu)，噪聲小、抗干擾能力強(qiáng)；三線制串行接口，可靈活與微處理機(jī)或SPI連接；內(nèi)設(shè)濾波器和程控放大器，其放大器增益為64，可直接連接電子拉力試驗(yàn)機(jī)力值傳感器或應(yīng)變傳感器；字節(jié)傳輸速率從6.25~3840S/s；電源供電50或60Hz，分別有三種供電方式；參考電壓*高不超過(guò)模擬電壓；內(nèi)設(shè)偏移、增益標(biāo)定寄存器。
二.電子拉力試驗(yàn)機(jī)數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器芯片外部管腳性能描述：
AIN1+AIN1-為差分模擬信號(hào)輸入端；C1，C2為內(nèi)部測(cè)量放大器外接電容端；VA+、VA-為正負(fù)模擬電源端；A1、A0為外部通道開(kāi)關(guān)選擇線；OSC1、OSC2為外部時(shí)鐘晶振連接端；SCLK為串行時(shí)鐘輸入端；SDO為串行數(shù)據(jù)輸出端；SDI為串行數(shù)據(jù)輸入端；CS為片選信號(hào)端，低電平有效；VD+為正數(shù)字電源端；DGND為數(shù)字信號(hào)地；VREF+、VREF-為差分參考輸入端；NC為空端。
主營(yíng)產(chǎn)品：
拉力機(jī) 拉力試驗(yàn)機(jī) 萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī) 萬(wàn)能材料試驗(yàn)機(jī) 電子拉力試驗(yàn)機(jī) 電子拉力機(jī) 電子萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī) 老化試驗(yàn)箱
